El microscopio de fuerzas atómicas (en inglés Atomic Force Microscopy ó AFM) es una técnica que utiliza una sonda o punta muy fina (de aproximadamente de 5 a 50 nm de radio) que se localiza en la parte final de una palanca o cantilever, con el fin de barrer la superficie de la muestra registrándose las fuerzas de interacción que hay entre la sonda y la muestra cuando se encuentran muy próximas.  Con esta técnica se es capáz de generar imágenes tridimensionales de superficies con alta resolución espacial dentro del rango del nm (nanómetro) y es posible medir fuerzas en el rango del nN (nanoNewton). En la parte dorsal del cantilever incide un rayo láser, cuyo reflejo es captado por un fotodetector. A la vez que se va barriendo la superficie, el cantilever sufre deflexiones verticales, que dependen de la topografía de la muestra y las cuales se van captando y registrando por el fotodetector. 

 

Esta clase de microscopía permite el análisis topográfico y mecánico de toda clase de materiales a escala nanométrica, por lo que tiene una gran variedad de aplicaciones dentro de la física de superficies, nanotecnología o incluso en las áreas de biomedicina y biofísica. Las posibilidades para la investigación en el área de la biofísica son múltiples incluyendo experimentos de células ó moléculas individuales como espectroscopia de fuerza, estudio de plegamiento de ácidos nucléicos y proteínas o el estudio de interacciones receptor-ligando.